GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》解读-企检网

标准详情

标准号： GB/Z 26082-2010

名称：《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》

发布日期：2011-01-10

发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会

5. 起草单位：中国科学院物理研究所国家超导重点实验室

6. 标准内容：GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》是一项指导性技术文件，规定了测量纳米材料直流磁化率（磁矩）的术语和定义、样品制备及测量、测量仪器、测量步骤和试验报告等。该标准适用于利用电磁感应定律制造的超导量子干涉器磁强计（SQUID）及振动样品磁强计（VSM）测量纳米材料的直流磁化率（磁矩）。亚微米尺度范围的材料也可参照本标准执行。

标准内容主要包括：

术语和定义：明确了与纳米材料磁化率和磁矩相关的专业术语。

样品制备：描述了样品的制备要求，包括样品的形状、尺寸和处理条件。

测量仪器：规定了测量设备的技术要求，包括设备精度和校准方法。

测量步骤：详细说明了测量过程的操作步骤，包括样品放置、数据采集和处理。

试验报告：要求记录和报告测量结果，包括实验条件、数据和分析结果。

应用场景：

GB/Z 26082-2010的应用场景包括但不限于：

纳米材料研究：在纳米材料的磁性能研究中，用于评估材料的磁化特性。

材料科学：在材料科学的研究和开发中，用于测量和比较不同材料的磁性质。

电子行业：在电子行业，用于评估磁性材料在电子设备中的适用性。

医疗领域：在磁共振成像（MRI）和其他医疗技术中，用于测量相关材料的磁性质。